05/10/2010
Le parc de diffraction des rayons X de la fédération Chevreul vient de s’enrichir de trois diffractomètres, d’une part, et d’une micro-source pour les études de diffusion aux petits angles (SAXS), d’autre part. Ces trois diffractomètres permettent la caractérisation structurale par diffraction des rayons X de composés cristallisés.
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Le deuxième diffractomètre, réservé aux composés monocristallins, est équipé de deux sources de rayonnement (micro-sources) beaucoup plus puissantes que les sources dites « classiques » : elles permettent ainsi l’accès à la structure cristalline d’échantillons autrefois trop petits qu’ils soient organiques ou inorganiques.
Enfin, le troisième diffractomètre est doté d’une anode tournante 9kW : il autorise à la fois la caractérisation structurale haute résolution de poudres et d’échantillons massifs mais aussi celle de films minces que ce soit à température ambiante ou jusqu’à 1100°C. Cet appareil, ainsi équipé, est unique en Europe.
Le plateau technique constitué des diffractomètres déjà existants et de ces nouvelles acquisitions offre un éventail d’analyses qui couvre un large domaine d’applications, accessible à la communauté scientifique et aux partenaires industriels.
La diffraction des rayons X reste l’une des techniques incontournables de caractérisation structurale des matériaux.